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8寸毫米波探針臺T-200mmW
支持dc~1.1THz太赫茲信號測試;
用于器件電學、光-電參數(shù)驗證;卡盤尺寸、功能、形狀可定制;
可支持多種光源耦合(垂直、水平、傾斜任意角度、背面耦合等);
樣品臺X-Y位移范圍:8英寸*8英寸,或選配25mm*25mm(精細微調(diào));
高清解析,可升降金相顯微鏡;
可升級支持高溫、低溫功能(帶微腔結(jié)構(gòu));
     
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